TSI推出的SMPS TM 扫描电迁移粒径谱仪被广泛用于测量1微米以下的气溶胶粒径分布的测量 标准。选配3777型纳米增强仪以及3086型DMA差分电迁移分析仪（1nm-DMA）组件后，SMPS粒径谱 仪能够测量纳米的粒径范围扩展至1nm。。
以下特性和优势是基于由 3082 型静电分级器 、 1nm-DMA差分迁移分析仪 、 3777型纳米增 强仪 、3772型凝聚粒子计数器 等组件共同组成的SMPS扫描电迁移粒径谱仪。
高分辨率粒径分布
+ 64通道/10倍粒径
+ 1到50nm之间多于109通道
给您最大灵活度的组件设计
1nm到50nm的极宽粒径范围
+和3081A型长差分电迁移分析仪配套使用能够测量1nm到1um
三个数量级的粒径
最优化设计，将散逸损失降到最低，系统高度整合
通过气溶胶仪器管理（AIM）软件进行系统操作
离散颗粒物测量：多模态样品测量效果极好
基础气溶胶研究
颗粒成核及生长研究
大气及气候研究
燃烧及发动机排放研究
过滤器及空气净化器测试
吸入或暴露舱研究
健康影响因素研究